高频光电导与微波光电导寿命仪对比测量总结

TLL

      关于半导体材料参数少子寿命测量的问题，目前市场上使用最多的两种方法：高频光电导衰退法和微波光电导衰退法来测量半导体材料的少数载流子寿命，本文对两种方法进行了对比测量，并总结测试结果，供大家参考。