zhaofei0415 发表于 2016-12-5 09:30:36

硅片半导体有少子寿命可测，但是氮化硅本身属绝缘体，不存在少子寿命的，镀膜以后再测少子寿命测得是氮化硅而不是硅片，测不出应该是正常的。如果要测最少也要把膜腐蚀以后再测吧。以上是本人愚见供参考。
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